IC卡动态弯曲双向扭试验机用于检测磁条卡,IC芯片卡,集成电路卡等卡的弯曲和扭曲性能测试。模拟IC卡（如银行卡、交通卡）在‌反复弯折‌场景下的耐久性，检测芯片、卡基材料及焊点的疲劳寿命。

IC卡动态弯曲双向扭试验机技术参数：

測試速度：彎曲 扭曲30r/min及0.5Hz

測試周期：1~9999次    

扭曲度 ：±15°±1° 雙向d=86 mm

正反向各15°，扭曲角度30°

长边*位移量为20mm(+0.00mm,-1 mm)

长边*小位移量为2mm±0.50mm，

短边*位移量为10mm(+0.00mm,-1 mm)

长边*小位移量为1mm±0.50mm，

夹具安装尺寸完全按照*标准执行。

长边弯曲工位数：5工位

短边弯曲工位数：5工位

双向扭转工位数：5工位

外形尺寸：L670 X W380 X H220

儀器重量：70kg

電 壓：AC220V±5%

功 率：35W

仪器加罩前的尺寸是：

长：74.5cm，宽：38cm  高：30cm 

设计完全按标准执行双向扭转测试。

使用方法

(1) 仪器接通电源,将计数器,数值调到三个“0”,放上标准卡.

(2) 按扭曲启动按扭(此时只有点功能),看摇摆指针是否在±15°之间作往复运

动.

(3) 按下弯曲启动按扭,使弯曲卡位处于距离 远,看指针分别在某一刻度,

或者用卡尺测量台面到卡的高度,然后再按下弯曲启动按扭,使得弯曲卡

位处于距离*近,看指针分别在另一刻度,或者用卡尺测量台面到卡顶

端高度,两高度之差分别是10mm和20mm.